射击残留物标样

lanotec 射击残留物 (GSR) 与颗粒分析标样套装包含两种测试标样：一种带有合成 GSR 颗粒， 另一种则用于通过扫描电镜/能谱仪 (SEM/EDX) 进行自动化颗粒分析。

射击残留物标样 射击残留物样品 含合成 GSR 颗粒的 SPS 测试标样 此合成颗粒标样 (SPS) 专为用于 GSR 样品自动化分析的扫描电镜/能谱仪 (SEM/EDX) 分析系统进行校准与验证而设计，对于快速进行系统性能验证和质量保证流程尤为实用。

SPS-TM-A 测试标样制造在一块 8 x 8 毫米的玻碳衬底上，其上分布有各种尺寸、含有铅 (Pb)、锑 (Sb) 和钡 (Ba) 的合成颗粒。这些尺寸在 0.5 至 2.0µm 之间的合成 GSR 颗粒，在 6 x 6 毫米的区域内呈统计性分布。为提高导电性，SPS 测试标样经过了薄层碳的喷涂处理。每件 SPS 测试标样均按明确数量的 Pb/Sb/Ba 颗粒制造，但可能会有部分颗粒缺失或位置偏移。因此，每件 SPS 测试标样都经过单独检测，并附有一份证书，标明了 Pb/Sb/Ba 颗粒的精确数量及其位置。

• 玻碳衬底，尺寸 8x8 毫米，已安装于标准样品座上

• 约含 150 个 Pb/Sb/Ba 颗粒，粒径分别为 0.5、0.75、1.0、1.25、1.5 和 2.0µm

• 另有 4 个 Pb/Sb/Ba 颗粒，直径约为 12µm

• 已喷碳处理

• 每件 SPS 测试标样均有唯一的身份识别码

• 附有认证证书，包含 X/Y 坐标位置图并确认颗粒的化学成分

建议使用扫描电镜的背散射电子 (BSE) 信号对颗粒进行成像，因为 Pb/Ba/Sb 颗粒与玻碳衬底之间存在巨大的信号衬度差异。扫描电镜的电子束流不应超过 2 nA。每件 SPS 测试标样均附有使用说明。在评估自动化 GSR 测量结果时，建议将获取到的 Pb/Ba/Sb 颗粒数据（特别是其 X-Y 坐标和粒径）以 X-Y 坐标图的形式展示。当显示区域设置得当时，便可将检测到的颗粒位置和尺寸与证书上的颗粒点阵图进行直接比较。

用于检验和验证 SEM/EDX 系统自动化颗粒分析功能的测试标样 此测试标样包含 15 行不同尺寸的颗粒，每行有 20 个颗粒等间距分布。凭借其已知的颗粒尺寸和位置，该标样可用于测试和验证各类用于自动化颗粒分析应用的 SEM/EDX 系统。

测试标样简要说明：

• 10 行 x 20 颗粒的点阵结构

• 每行 20 个相同尺寸的颗粒分布在一条虚拟直线上，间距均为 150µm

• 颗粒粒径分别为 2.0、1.8、1.6、1.5、1.4、1.3、1.2、1.1、1.0、0.9、0.8、0.7、0.6、0.5 和 0.4µm (部分颗粒可能缺失)

• 每种尺寸类别的颗粒行首均有标记

• 多层结构，包含 PbO、BaF² 和 Sb₂O³ 颗粒

• 玻碳衬底

• 每件测试标样均包含两组 10x20 的颗粒点阵。

该测试标样对于校准视场/电镜样品台、进行颗粒测量/分类、开展 EDX 分析以及校正视场的重叠、间隙和旋转尤为实用。它同样有助于将扫描旋转与电镜样品台的 X/Y 轴移动对齐。